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發明專利實體審查基準(一)：國際法規與案例彙編(2版)

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			9789860213881
			張仁平
			經濟部智慧財產局
			2010年3月01日
			117.00 元
			HK$ 105.3

詳
細
資
料

* 叢書系列：探索科技
* 規格：平裝 / 316頁 / 25k / 普級 / 單色印刷 / 初版
* 出版地：台灣

探索科技

分
類

專業/教科書/政府出版品 > 政府出版品 > 科技發展 > 產業研究

同
類
書
推
薦

內
容
簡
介

　　本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例，其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容，列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPs）與專利合作條約（PCT）等，以供比較參考，並於各章節編列相關案例，詳加解說，有助於瞭解專利審查基準之相關規範。

書
評

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